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產品：LUNA 6415 光器件分析儀（yí）

Luna 6415光（guāng）器件分析儀采用光頻域反（fǎn）射技術（OFDR），通過探測背向瑞利散射光或者（zhě）透射光獲取其（qí）與距離的函數關係。Luna 6415作為光子集成電路和矽光芯片的（de）理想分（fèn）析儀，得益於其超高（gāo）的靈敏度和空間分辨率（20μm）。Luna6415單台儀器通過選擇反射或者透射模式就能完成IL、RL、長度等（děng）所有測試，大大降低了測試成本，同時簡化了測試流（liú）程。相比其它測試係統，將大（dà）大增加測試產量。

回損（sǔn）（RL）和（hé）插損（IL）分（fèn）析

反射和透射模式分（fèn）析器件

光路（lù）長度方向（xiàng）上的回（huí）損分布（bù）

RL和IL的光譜分析

探測和精準定位反射事件和（hé）測（cè）量光路長（zhǎng）度（長達（dá）100米）

優化生產測試的速度、空間分辨率和精（jīng）度：20μm采樣分辨率

RL空間分布測試

IL自動（dòng）測試和分析

延遲測量分辨（biàn）率（lǜ）可達亞皮秒

PLCs、光波導器件、AWGs和ROADMs等（děng）測試

耦合器、光開關和分束器等測試

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