Arden MPX-1A 環形通量（EF）測（cè）試儀

MPX-1A 環形通量測試（shì）儀是全球行業領（lǐng）導者的首選（xuǎn），以其符合國際（jì）標準（zhǔn）和可重複的結果而聞名，設定了行業黃金標準。精確的環形通量（liàng）測量對於評估多模網（wǎng）絡解決方（fāng）案和（hé）確保光學係統（tǒng）的最佳性能至（zhì）關重要。

Arden MPX-1C 環形通量（EF）測試儀

MPX-1C簡化了測量過程：隻需連接您的光源和跳線，係統即可實時測量模態（tài）發射條件。它采用最新（xīn）的 CMOS 攝像頭技術，能夠快速準確地進行測量，給出精（jīng）確且不依賴用戶的結果。

Arden nPA-400 折射率分布測試儀

nPA-400 是獲取驗證標準光纖和特種光纖折射率數（shù）據的快速、簡便和低成本方法。

幹淨，高效的圖形用戶界麵使用戶能夠以最少的培訓或經驗充分表征其光纖特性。nPA-400提供準確且可重複的折射（shè）率數據，提供有（yǒu）關光纖設（shè）計和（hé）製造工藝的寶貴信息。

nPA-400 折射率分析儀使用改進的（de）折射近場技術來分析光纖的端視圖（tú）灰度強度分布，以確定其完整的 2D 折射率分布（bù）。

Arden VFI 斷（duàn）麵幹涉檢測係統

VFI 是一種幹涉檢測係統，專為檢查切（qiē）割或拋光光纖的表麵（miàn）質量和平（píng）整度而設計。 用戶可以在 2D 和 3D 的各種不同視圖中（zhōng）查看其光（guāng）纖，從（cóng）而讓用戶全麵了解其切割或拋光（guāng）過程。 VFI 幹涉儀已在研究（jiū）、生產和 QA 中一遍又一遍地證明了自己，我（wǒ）們從用戶那裏得（dé）到的反饋表明他們重（chóng）視這些功能：

Arden MPX 環型通量（EF）測試儀

MPX模態測試儀是世界各地領先公司測試環形通量首選的儀器。 隻需將光源和跳線連接到MPX,它就會（huì）實時測量模態的注入條件。

Arden FGC-G 光纖幾何參數測試儀

FGC-G光纖幾何（hé）測試係統提供了光纖端麵幾何形狀的高速自動測量。它（tā）采用了在標準（zhǔn）IEC-60793-1-20附（fù）錄B中描述的基準測試法（RTM）: 視頻灰度技術。

暗視野照明

Arden FGC-P 光（guāng）纖塗層幾何參數測試儀

FGC-P 光纖塗（tú）層幾何係統是（shì）一（yī）種緊（jǐn）湊、可靠（kào）的解決（jué）方案（àn），用於測量（liàng）光纖塗層（céng）的幾何特性（xìng），光纖塗層直徑為 100 μm 至 260 μm。 這種用戶友好的全自動係統（tǒng）可快速、直接（jiē）地測（cè）量光纖塗層幾何參數，包括（kuò）： 塗層（céng）直徑 ，塗層非（fēi）圓度 ，塗層-包（bāo）層同心度

Arden ModCon 模式控（kòng）製器

ModCon 模式控製（zhì）器是一款輕（qīng）盈，小巧（qiǎo）的模（mó）塊，將修正你的（de）LED 或（huò）VCSEL 光源，以提供可重複的符合環形通量規定的（de）注入條件。

隻需插上MODCON 到您的光源（yuán）將會為您提供一個穩定和一致的符合IEC62180-4-1:2009 EF 的輸出。

Arden CMC-1550 少模分析儀

CMC-1550少模分析儀是（shì）為測量光纖結（jié）構複雜的少模光纖和空心光纖的各模態特性（xìng）而設計的。

它由兩（liǎng）個不同的單元-發射單（dān）元和接收單元組成，采用空間和光譜分辨成像(S2)技術來識別和表征光纖的單個模式，估計其模式（shì）相關（guān）的傳播損耗，並評（píng）估（gū）其模式耦合效應。

CMC-1550 獲得每種傳播模式的（de）差分群延遲 (DGD) 以及與最激發模式相比的相對強度（或多徑幹擾 (MPI)）。 

它提供了對光（guāng）纖內各個模式特性（xìng）及其（qí）相互作用的全麵了解，有助於重建被測光纖的傳播模式輪廓和（hé）導模相位。