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兩(liǎng)點彎曲測試法是(shì)測定光纖強度和(hé)疲勞(láo)參數的一種極其方便(biàn)和常用技術(shù),尤其是對於(yú)高強度光纖,目前這種技術被廣泛用(yòng)於光纖製造業(yè)和光纖測試(shì)領域。
兩點彎曲法可以(yǐ)產(chǎn)生大量的數據(jù),用來檢測不(bú)同塗覆層光纖的強度和(hé)疲勞度。
軸向拉(lā)力測試法是測定光纖拉(lā)斷力和剝離(lí)力的一種極其方便和常用技術,適用於各種類型的光纖,目前(qián)這種技術被(bèi)廣泛用於光纖製造業和光纖測試領域,同時可以產生大量的數(shù)據(jù),用來檢測不同塗覆層光纖的光纖拉斷力(lì)和塗覆層剝離力。