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LUNA公司的OVA5100是最快速（sù）、精確、高效的光矢量分析儀，可用千現代 光學設備和係統的損耗、偏振、色散等光（guāng）學參數的分析與測試，包括光子集（jí）成電路(PIC)。
OBR4600是（shì）LUNA公司獲獎產品背光反射計的最新型號。專用於器件和短期網絡的測試及故障（zhàng）定位，OBR4600具有背光水平的靈敏度，從而獲得（dé）超高分辨率。高達（dá）10微（wēi）米的空間分辨率、零死區（qū）、集成（chéng）溫度和應力（lì）探測及（jí）加長模式，OBR4600提（tí）供了無可比（bǐ）擬的光纖測試能力。
Luna 6415光（guāng）器件分析儀采（cǎi）用光頻域反射技術（OFDR），通（tōng）過探測背向瑞利（lì）散射光或者透射光獲取其與距離的函數關係。Luna 6415作為光子集成電路和矽光芯片的理想分析儀，得益（yì）於其超（chāo）高的靈敏度和空間分辨率（lǜ）（20μm）。Luna6415單台儀器通過（guò）選擇反射或者透射模（mó）式就能完成IL、RL、長度等所有測（cè）試，大大降低了測試成（chéng）本，同時簡化了測試流（liú）程。相比其它測（cè）試係統，將大大增加測試產量。
即可本機操作，也（yě）可以遠程操控，多個操作模式的全功能（néng）的全（quán）光纖偏振態（tài）控製（zhì）器儀器。
PCD-104擾偏儀使用了全光纖技術，有效地打亂偏振態（tài）。PCD-104擾偏儀實現的消偏具有多種重要應（yīng）用（yòng）。對輸入光進（jìn）行擾偏可以消除測試中由於儀器的偏振敏感性帶來的測量不準確性，及（jí）由於（yú）PDG引起的係統性能退化的情況。擾偏儀還可用來簡化係統（tǒng）PMD監測。PCD-104具有*低的插入損耗、回反（fǎn）、和剩（shèng）餘相位和振幅調製等優越的性能。
ERM-202全（quán）波段消（xiāo）光比測試儀是一款單通道和雙通道可選的消（xiāo）光比測量儀，可（kě）實現（xiàn）1260～1650nm全波段測量。可用於雙路輸出保偏器件的消（xiāo）光比和功率比（bǐ）測量，例如： Y分支光（guāng）纖陀螺IOC，保偏耦合器（PMC），偏振（zhèn）分（fèn）束器（PBS），同樣也能評估消偏器的輸出偏振度。
